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目录:弗尔德(上海)仪器设备有限公司>>Microtrac MRB粒度分析仪>>静态图像分析>> CAMSIZER M1麦奇克莱驰静态图像法粒度仪

麦奇克莱驰静态图像法粒度仪
  • 麦奇克莱驰静态图像法粒度仪
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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 品牌 Retsch/德国莱驰
  • 型号 CAMSIZER M1
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 上海市
属性

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更新时间:2023-12-29 12:12:36浏览次数:4744评价

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上市时间:
2019-5-30
创  新 点:
Camsizer M1是采用静态图像法对样品颗粒进行全面、准确表征的粒度粒形分析仪。Camsizer M1作为静态图像
  法中的*选择,在产品研发和质量控制方面具有非常好的应用效果。
  
  莱驰科技推出的Camsizer M1新款粒度粒形分析仪,是莱驰科技强大颗粒图像分析仪系列的补充。静态图像分析法的测量原理(ISO 13322-1)可以精确表征细粉和悬浮液颗粒的粒度粒形,测量细度可达亚微米级别。Camsizer M1的样品台可配备各种插件,用于评估与八个标准载物片相对应的区域。
产地类别 进口 应用领域 生物产业,石油,能源,交通,冶金
麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪是采用静态图像法对样品颗粒进行全面、准确表征的粒度粒形分析仪。莱驰科技CAMSIZER M1是采用静态图像法粒度仪中的*选择,为产品研发和质量控制提供了非常好的应用效果。

麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪是采用静态图像法对样品颗粒进行全面、准确表征的粒度粒形分析仪。CAMSIZER M1是采用静态图像法粒度仪中的*选择,为产品研发和质量控制提供了非常好的应用效果。

麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪具备强大的照明装置、高精度的样品台以及5个放大倍率为2.5x至50x的物镜。宽阔的样品台可用于评估8个标准载物片相对应的区域。CAMSIZER M1采用1810万像素彩色摄像头进行图像采集,确保在整个测量范围内快速准确地分析颗粒。


麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪应用实例:

活性药物成分和辅料、水泥、陶瓷粉体、化学品、精细研磨抛光剂、纤维、食品、工业金刚石、金属粉末、矿物 ...


麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪优点:

  • 硬件

  • 测量范围0.5—1500 µm

  • 1810万像素彩色摄像头

  • 测量可用透射光或入射光或两者同时使用

  • 多种样品板托盘可选,提供大灵活性

  • 配有5个物镜,选配1个物镜

  • 高精度可控样品台

  • 手杆操控

  • 使用M-Jet模块对样品粉末进行有效分散

  • 软件

  • 直观的评估软件

  • 同时进行粒度粒形分析

  • 粒度定义包括宽度、等效球径宽度、费雷特直径、马丁直径等

  • 粒形参数包括圆度、凹凸度、纵横比、紧实度等

  • Particle X-Plorer软件评估测量后的每个颗粒

  • 建立综合颗粒数据库

  • 多种评估和筛选选型

  • 结果显示对应的数量、面积、体积

  • 无缝拼接算法

  • 焦点叠加

  • 常规优势

  • 快速简单的校准

  • 多种配件

  • 高清图像

  • 同时记录颗粒数据和图像

  • 自动测量


麦奇克莱驰CAMSIZER M1静态图像法粒度仪性能指标:

测量原理静态图像分析 (ISO 13322-1)
测量范围0.5 µm - 1500 µm
分析类型干法和湿法分析
测量时间~ 5 — 60分钟(取决于样品类型和测量数据)
分辨率18.1 M像素彩色摄像头
大数字分辨率35 nm
可用物镜标准: 2.5x 5x 10x 20x 50x 可选: 1.25x or 100x
重量 (测量单元)~ 45 kg
操作单元PC,包括Windows 10操作系统、2台显示器、键盘、鼠标、评估软件


麦奇克来此CAMSIZER M1静态图像法粒度仪作用原理:

CAMSIZER M1采用静态图像法测量颗粒的粒度粒形,测量范围0.5 µm-1500 µm。装载样品材料的滑块部件随着相机系统同步移动,确保每移动一步拍摄一张照片。干湿样品(粉末、悬浮液)均可分析。对比动态图像法 ,静态图像法的样品在测量过程中是固定的,因此,可以获得更高质量的颗粒图像,捕获更丰富的细节。


每次检测,粒度粒形分析仪CAMSIZER M1自动对焦在观测板上,确保所选区域的所有颗粒都能得到高精度图像(倾斜补偿)。分析过程中可以储存所有图像和测量数据,使用Particle X-Plorer软件为后续数据评估提供了多种可能性。测量完成后,总体图像带给客户直观的颗粒质量认识。通过创新的拼接算法,实现多个测量区域的无缝拼接,甚至能够评估尺寸大于1500μm的颗粒。

根据技术改造和误差调整





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